CX- Angle BRDF光學觀測平臺也叫二向反射支架，除了搭載現(xiàn)在行業(yè)主流的地物光譜儀之外也可以將specim等高光譜成像光譜儀搭載應用。利用室內光源對薄片（植物葉片）、粉狀（粉碎土壤和粉末礦物質）和水體等各種地物進行半球方向的BRDF定量觀測的一種觀測平臺。其載物臺安裝透射率為99%透射率的石英玻璃，可固定定量觀測不平整薄片光譜、壓平薄片進行規(guī)則化高光譜反射率觀測；載物臺可進行360°間隔1°轉動，定量觀測目標物的光源方位角，進行定量目標物紋理結構對反射光譜的影像，室內高光譜BRDF觀測平臺提高了高光譜儀對地物BRDF觀測的全面性。

室內高光譜BRDF觀測平臺主要載物臺，具體詳見如下：

一、載物臺

載物臺包括：載物區(qū)、升降區(qū)、 平移區(qū)區(qū)域之間的連接方式如下：所有平面石英玻璃Ⅰ、石英玻璃Ⅱ、石英玻璃支架、工作臺、剪式升降臺、左右平移臺和前后平移臺上面和下面均為較高要求平整平面，且這些部件平面水平放置，且其重心在垂直與水平面的一條連線上；石英玻璃Ⅰ、石英玻璃Ⅱ水平插入石英玻璃支架的兩條上下石英玻璃槽中，并且石英玻璃Ⅰ在上，石英玻璃Ⅱ在下；之后直連接支架四根支架頂端與載物區(qū)底部四角垂直連接， 所述左右平移臺上面四角與直連接支架四根支架底端垂直相連；剪式升降臺上頂面和工作臺下底面平行相連，與左右平移臺上面平行相連；左右平移臺下面與前后平移臺上面平行連接，但在左右平移臺和前后平移臺軸線是相互在垂直。

 載物臺俯視圖                         載物臺側視圖

其指標參數與響應功能：

1）載物臺可進行360°間隔1°轉動，調整觀測目標物的光源方位角；

2）載物臺安裝透射率為99%透射率的石英玻璃，可固定定量觀測不平整薄片光譜、壓平薄片進行規(guī)則化高光譜反射率觀測；

3） 載物臺頂部一層網格化的可移動玻璃可量化高光譜儀視場觀測范圍；

4） 載物臺下方安裝左右前后手動調節(jié)的螺旋鈕，調節(jié)精度為1cm；

5） 載物臺下方同時安裝上下調節(jié)旋鈕，調節(jié)范圍：15cm以內；

二、BRDF測定支架

室內高光譜BRDF測定系統(tǒng)，包括兩套光源區(qū)1、高光譜輔亮計調節(jié)區(qū)2、載物臺區(qū)3和水平放置的底座4；光源區(qū)1包括光源11、光源調距閥12、光源支桿13和半圓弧滑軌14，光源11通過所述的光源支桿13與固定在底座4側面的半圓弧滑軌14的圓心鉸接；高光譜輔亮計調節(jié)區(qū)2包括調距器22、1/4圓弧滑軌23和空心轉動圓盤24，輔亮計21通過1/4圓弧滑軌23與空心轉動圓盤24連接；載物臺區(qū)3放置在所述的底座4中心，且載物臺區(qū)3的重心與所述的底座4重心的在同一條垂線上，底座4中心固定所述的空心轉動圓盤14；光源11光軸始終指向空心轉動圓盤14的圓心。

其指標參數與響應功能

1)整個觀測平臺表面制黑色烤漆反射率低于1%；

2 )雙光源支架進行0-180°間隔5°天頂角調節(jié)；

3) 探測支架可搭載標準的ASD或SVC地物光譜儀探頭；觀測探頭調節(jié)高5-20cm；

4) 探測支架可對探頭進行間隔5°調節(jié)在半球方向上的高光譜觀測；

案列說明：

其他實驗條件相同;123圖標中各有三個小圖標，每個小圖標分別是由上、下和右組成。上是從載物臺上方的俯視圖，其中黑色虛線代表葉片主脈的方向，與俯視平面縱軸夾角分別是0o、30o、和45o；下是葉片平放時自然特征;右是小圖標下的自然高度測量器，高度指針都在 95mm 處 。

圖-1： 植物葉片轉動對光譜的影響；其中圖中①②③表示三種不同葉片轉動條件，其他實驗條件相同；①②③圖標中各有三個小圖標，每個小圖標分別是由上、下和右組成。上是從載物臺上方的俯視圖，其中黑色虛線代表葉片主脈的方向，與俯視平面縱軸夾角分別是0o、30o和45o；下是葉片平放時自然特征；右是小圖標下的自然高度測量器，高度指針都在95mm處。

圖-2

圖-2： 植物葉片平整性對光譜的影響；其中圖中①②③④表示三種不同葉片平整條件，其他實驗條件相同；①②③④圖標中各有四個小圖標，與圖5中表示的方式相同，葉片通過壓平葉片的程度表示葉片的平整性，①②③④分別在95mm、111mm、100mm和105mm高度指針處。

四、利用室內高光譜BRDF光學觀測平臺對平整葉片BRDF測定

                                                  室內高光譜BRDF測定系統(tǒng)對平整葉片BRDF測定

五、利用室內高光譜BRDF觀測平臺對自然或者卷曲葉片BRDF測定